介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)定儀有哪些常見故障
更新時(shí)間:2025-07-28 點(diǎn)擊次數(shù):26
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)定儀(介質(zhì)損耗測(cè)試儀)在使用中可能遇到多種故障,這些故障通常與接觸不良、環(huán)境干擾、線路老化、操作模式選擇不當(dāng)以及儀器本身問題相關(guān),以下是常見故障及其分析:
- 搭鉤接觸不良:
- 現(xiàn)象:使用搭鉤連接測(cè)試產(chǎn)品時(shí),掛鉤未與測(cè)試產(chǎn)品良好接觸,導(dǎo)致接觸點(diǎn)放電,數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動(dòng)。
- 原因:測(cè)試產(chǎn)品表面氧化層過厚或風(fēng)吹導(dǎo)致管道擺動(dòng),造成接觸不良。
- 處理:清潔掛鉤和測(cè)試產(chǎn)品接觸面,確保良好接觸;固定測(cè)試產(chǎn)品,減少擺動(dòng)。
- 接地接觸不良:
- 現(xiàn)象:儀器保護(hù)或數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動(dòng)。
- 原因:接地點(diǎn)存在油漆、鐵銹等,導(dǎo)致接地電阻不為零。
- 處理:刮除接地點(diǎn)油漆和鐵銹,確保零電阻接地。
- 直接測(cè)量CVT或電磁PT時(shí)的負(fù)介損問題:
- 現(xiàn)象:直接測(cè)量CVT下節(jié)耦合電容或電磁PT時(shí),出現(xiàn)負(fù)介損。
- 原因:直接測(cè)量CVT下節(jié)耦合電容會(huì)產(chǎn)生負(fù)介損,應(yīng)改用自激法;用端部屏蔽法測(cè)量電磁PT時(shí),受潮引起“T形網(wǎng)絡(luò)干擾”,產(chǎn)生負(fù)介損。
- 處理:改用自激法測(cè)量CVT;吹干電磁PT的陶瓷套管和接線端子盤,或改用常規(guī)法或末端加壓法測(cè)量。
- 空氣濕度影響:
- 現(xiàn)象:介電損耗測(cè)量值異常增大(或減小甚至為負(fù)),且不穩(wěn)定。
- 原因:空氣濕度大使測(cè)量值異常。
- 處理:在必要時(shí)添加屏蔽環(huán)(但需注意,此方法可能改變樣品電場(chǎng)分布,存在爭(zhēng)議,可參考相關(guān)規(guī)定)。
- 電源頻率不穩(wěn)定:
- 現(xiàn)象:發(fā)電機(jī)供電時(shí)輸入頻率不穩(wěn)定,影響測(cè)量結(jié)果。
- 處理:采用定頻50Hz模式工作。
- 測(cè)試線路問題:
- 現(xiàn)象:測(cè)試線路隱性開路、芯線和屏蔽短路或插頭接觸不良,導(dǎo)致測(cè)量不準(zhǔn)確。
- 原因:長(zhǎng)期使用導(dǎo)致線路老化或損壞。
- 處理:經(jīng)常維護(hù)測(cè)試線路,使用全屏蔽插頭連接測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)電容試品,以消除附加雜散電容影響;自激法測(cè)量CVT時(shí),將非專用高壓線路吊起懸掛,避免對(duì)地附加雜散電容和介損引起測(cè)量誤差。
- 工作模式選擇錯(cuò)誤:
- 現(xiàn)象:接線后未選擇正確的測(cè)量方式(正、負(fù)、CVT),導(dǎo)致測(cè)量不準(zhǔn)確。
- 原因:在干擾環(huán)境下未選擇變頻抗干擾模式。
- 處理:根據(jù)測(cè)試環(huán)境和試品類型選擇正確的測(cè)量模式。
- 儀器故障:
- 現(xiàn)象:儀器無(wú)顯示、測(cè)量結(jié)果異常等。
- 可能原因:電源連接不良、電源適配器故障、顯示模塊故障、電路元件損壞(如電容傳感器老化、電阻或電容故障)等。
- 處理:
- 檢查電源連接部分,確保電源線牢固插好,電源開關(guān)處于打開狀態(tài),電源適配器正常工作。
- 若電源部分沒有問題,可能是儀器內(nèi)部故障,需聯(lián)系專業(yè)維修人員進(jìn)行檢修。
- 使用萬(wàn)用表測(cè)量測(cè)試線是否開路,芯線和屏蔽是否短路;檢查輸入電源220V是否過高或過低;檢查接地是否良好。
- 用正、反接線測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)電容器或已知容量和介電損耗的電容器,若結(jié)果正確,可判斷儀器無(wú)故障;否則,儀器可能有故障。
- 拔掉所有測(cè)試線,執(zhí)行測(cè)試和升壓,若測(cè)試不正常,儀器可能有故障。開始CVT測(cè)量后測(cè)量低壓輸出時(shí),應(yīng)有2-5V電壓,否則儀器將失效。